近年來，由于人們的環(huán)保意識不斷提高，電子電氣產(chǎn)品引發(fā)的環(huán)境污染問題也備受關注。而怎么檢測出電子電氣產(chǎn)品上受限制的有害物質，也是人們要了解的問題。創(chuàng)想X熒光光譜儀可以很好的檢測出鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯(lián)苯、多嗅聯(lián)苯醚這6種限制物質，但是有許多用戶都不太清楚這款儀器是基于怎么樣的原理來完成的，今天在這里，就要為大家介紹X熒光光譜儀在ROHS檢測中的優(yōu)缺點。
X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構成。
X射線管X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量，然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。
下面讓我們來了解一下XRF-X射線熒光光譜儀的優(yōu)缺點都有哪些？
XRF-X射線熒光光譜儀的優(yōu)點主要有六個組成部分，他們分別是：
1.分析速度高
測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，60～200分鐘就可以測完樣品中的Pb、Cd、Cr、Hg、Br、Cl、待測元素。
2.X射線熒光光譜跟樣品化學結合狀態(tài)無關
X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態(tài)無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態(tài)也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定。
3.化學狀態(tài)的改變
非破壞分析在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復多次測量，結果重現(xiàn)性好。
4.物理分析法
X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。
5.分析準確度高。
制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
而XRF-X射線熒光光譜儀的缺點卻只有三項，他們分別是：
1. 難于作絕對分析，故定量分析需要標樣。
2. 對輕元素的靈敏度要低一些。
3.容易受相互元素干擾和疊加影響。
以上就是創(chuàng)想X熒光光譜儀在ROHS檢測應用中的優(yōu)缺點，創(chuàng)想儀器作為一家具有自主知識產(chǎn)權的創(chuàng)新型高科技上市企業(yè)，精益求精，以優(yōu)秀的產(chǎn)品、優(yōu)質的服務滿足客戶需求。，以優(yōu)秀的產(chǎn)品、優(yōu)質的服務滿足客戶需求。